金华LED灯珠LM-80报告周期快 LED灯珠 在线免费报价

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LM80报告是什么?LM80灯珠测试报告?
LM80报告是什么?LM80灯珠测试报告
LED灯 IES LM-79 和IES LM-80测试区别
1.IES LM-79 主要测试为光电性能测试,由于某些测试项目需要借助分布式光度计才能完成,所以一般的厂家没有能力做一份完整的报告,这个测试一般针对的是整灯的厂家。主要的测试项目如下:
总光通量
发光效率
光强分布
相关色温(CCT)
显色指数(CRI)
色品坐标(或称色度坐标)
输入交流(或直流)电压
输入交流(或直流)电流
输入功率(DC或AC)
输入电压频率
功率因子
2.IES LM-80主要测的是LED光源的流明维持,这一测试针对的是光源厂家,所以生产灯具的厂家只需要向你们的光源厂家要这一份测试报告就好了。
LM-79是固态照明产品电气和光度测量的方法
针对所有LED产品的测试方法,包含测试内容:
1、电参数(功率、电压、电流、功率因数)
2、颜色参数
3、光通量、光效
4、光强分布
5、色度不均匀性
LM-80是针对LED光源光通维持率的测试方法
针对LED光源而非LED灯泡和灯具,包含测试内容:
1、光源在不同温度下的光通维持率
2、光源在不同温度下的色度维持率
LM-79和LM-80与能源之星的关系:
LM-79:
能源之星中有大量光色参数的要求,其测试方法均引用LM-79作为测试方法标准
LM-80:
LM-80的测试数据作为成品光源光通量的引用数据以计算成品灯的光通维持率和色度维持率
并非有了LM-80数据就不需做光通维持率,同样需要测试验证。
LM80测试一千小时提供一次衰减数据,测试时间六千小时
安博测试
LED灯 IES LM-79 和IES LM-80测试区别
1.IES LM-79 主要测试为光电性能测试,由于某些测试项目需要借助分布式光度计才能完成,所以一般的厂家没有能力做一份完整的报告,这个测试一般针对的是整灯的厂家。主要的测试项目如下:
总光通量
发光效率
光强分布
相关色温(CCT)
显色指数(CRI)
色品坐标(或称色度坐标)
输入交流(或直流)电压
输入交流(或直流)电流
输入功率(DC或AC)
输入电压频率
功率因子
2.IES LM-80主要测的是LED光源的流明维持,这一测试针对的是光源厂家,所以生产灯具的厂家只需要向你们的光源厂家要这一份测试报告就好了。
LM-79是固态照明产品电气和光度测量的方法
针对所有LED产品的测试方法,包含测试内容:
1、电参数(功率、电压、电流、功率因数)
2、颜色参数
3、光通量、光效
4、光强分布
5、色度不均匀性
LM-80是针对LED光源光通维持率的测试方法
针对LED光源而非LED灯泡和灯具,包含测试内容:
1、光源在不同温度下的光通维持率
2、光源在不同温度下的色度维持率
LM-79和LM-80与能源之星的关系:
LM-79:
能源之星中有大量光色参数的要求,其测试方法均引用LM-79作为测试方法标准
LM-80:
LM-80的测试数据作为成品光源光通量的引用数据以计算成品灯的光通维持率和色度维持率
并非有了LM-80数据就不需做光通维持率,同样需要测试验证。
LM80测试一千小时提供一次衰减数据,测试时间六千小时
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安博检测已取得中国CNAS国家实验室认可(证书号L3503),并由此获得国际实验室认可组织(ILAC)的认可,我们同时获得国家认监委认证批准的中国计量认证CMA(证书号2013192137Z)资质,并获得美国消费品安全**CPSC、FCC、UL、德国TUV-SüD,韩国KTC授权的标准化第三方实验室。
依据ISO/IEC 17025运行的大型综合第三方检测机构。检测报告得到美国,英国,德国等71个国家和地区的认可。具备向社会出具公正数据的资格,检测报告具有国际公信力。
安博检测(Anbotek)拥有多名电磁兼容(EMC)及安规领域的*对策工程师,可提供从PCB Layout,电路参数计算,元器件规格选择到整机系统整合等一系列技术支持;从*到整机系统整合等提供一系列的技术支持。为您的产品*EMC&Safety要求提供可靠的**。

安博检测(Anbotek)EMC实验室,拥有2000m2 多的实验场地,建有二间标准的3m法半电波暗室和全电波暗室,符合CISPR16-1、ANSI C63.4)、多间屏蔽室、抗干扰实验室及多间安规实验室,检测设备先进精良均由德国R&S、瑞士 HAEFELY、美国CI、日本等公司制造;

LM-80-15介绍
在正常的工作电流和工作条件下,LED一般具有很长的工作寿命,可能在50000小时或更长,在整个寿命过程中,光输出慢慢衰减。光谱可能发生偏移,导致颜色和光效的失效。
2015年6月26日,IESNA北美照明工程协会(Illuminating EngineeringSociety of North America) 和ANSI 美国国家标准学会(American National Standards Institute)联合颁布ANSI/IESLM-80-15 IES Approved Method: Measuring Luminous Flux and Color Maintenance ofLED packages, Arrays and Modules.即: LED封装,阵列,模块的光通量和颜色的维持测试方法。此方法可以接受AC 恒压、DC恒压、PWM等LED封装、阵列、模块光学器件做LM-80测试和*。
LED通常具备很长的使用寿命特性,且依靠驱动电流和使用条件可以使用50000小时或者更久。与所有光源一样,LED发出的光输出随着输出时间会慢慢减弱。与传统光源不同的是,LED不会彻底失效。因此,随着时间的变化,流明维护率会导致更慢的光输出,而非规格中预期的或者规范、标准规范或规则中要求的情况。
随着时间的变化,LED发出的光谱也会逐渐变化,这会导致不可接受的外观或显色性。这些变化可能影响流明维护率,这主要是由于变化的光谱能量分布所引起的光输出变化的作用。
LED光源的性能通常受变量的影响,比如操作周期、外部设备与装置产生的条件、环境温度、气流以及方位。当多个实验室进行测试时,测试条件与程序的设计应可提供参照结果。推荐使用该认定方法也旨在此目的。
标准中明确规定了:
1. 测试环境条件
Ta、Ts、Humldity、Air Temperature、Air Movemen、Temperature、Measurement Equipment or System。
标准对Ts点和Ta点的温度控制要求,Ts温度要求大于等于标称温度Ts减2℃,同时环境温度Ta要求大于等于Ta减5℃,表述了不同的Ts温度监控方法,较低的温度监控点作为典型的监控点,同时要求报告中必须体现Ts温度监控点位置。
2. Ts温度点的数量要求
一般要求较少两个温度,具体考虑光源的使用环境。至少包含两个温度中(55℃和85℃)的一个。
3. 数据采集时间
至少每隔1000H收集测试数据,测试时间不少于6000H。
4. 光通量(流明)维持率
任意运行时间的输出光通量与原始光通量数据的比值百分比。
5. 额定流明维持寿命
*流明维持率百分比达到的时间。
TM-21介绍
TM-21 Projecting LongTerm Lumen Maintenance of LED Light Sources,即光源长期流明维持率的预测。
LED光源的好处之一就是使用寿命长。其和其他照明技术不同,在使用过程中通常不会突然失效。然而,随着时间的推移,光输出也会逐渐衰减。在某一时间点,LED发出的光衰减至某一水平而不再被认为达到了足够的应用要求。对于照明设计而言,理解LED光源何时达到“使用寿命”非常重要。
IES LM-80是用于测量LED光源流明维持率的方法。针对于LED阵列和模组,其定义了安装、条件和流明维持率的测试流程。LM-80是IES推荐的方法,并被广泛用于描述LED光衰特性。LED器件生产厂家提供的LM-80日常测试报告采用的数据都来自于持续测试6000小时或更多时间内的测试数据。然而,对于被测产品,LM-80并没有很好的定义对于收集到的数据,如何被实际用于确定LED的有效寿命。
额定流明维持寿命是指LED光源的光输出相对于初始光输出达到某一给定百分比所经过的运行时间。这个值被定义为Lp,p即百分比值。比如L70的含义是LED光输出下降至初始光输出的70%所经过的时间。LED光源达到其额定流明维持寿命取决于很多变量,包括运行温度、驱动电流、产品结构的技术与材料。因此,产品流明维持率不仅仅是制造商之间不同,并且在同一生产厂家内不同封装型式的LED之间也不相同。
标准中明确规定了:
1.额定流明维持寿命Lp,p标示剩余流明与初始数据流明的百分比。
2.使用数据:在本推算方法中所采用的数据按照IES LM-80所描述的方法采集数据。
3.样品数量:样品数量要求10pcs以上,分为10-19pcs,20pcs以上。
4.预测时间:10-19pcs不**过推算时间的5.5倍,20pcs不**过推算时间的6倍。即10-19pcs预测光通量时间只能推算5.5倍以内预测时间寿命,20pcs预测光通量时间只能推算6倍以内预测时间寿命。
5.寿命推算公式:由Φ(t)=βexp(-αt) 推导出寿命公式Lp= ln(100β/p)/α。
t=运行时间
Φ(t)=在时间t时的光通量输出归一化平均值。
β =由较小二乘曲线拟合派生出的推算初始化常数。
α=较小二乘曲线拟合派生出的衰减系数。
根据标准文件计算公式可以得出相关的数据。
6.某温度的寿命推导:用于较低值Ts1和较高值Ts2之间的温度下的寿命推导。
计算案例
本文数据以同一方光电6V SMD 3030 LM-80测试数据为版本进行以下计算。
1Ts测试数据寿命推算
Tabel 3.1、3.4为LM-80测试数据,Ts1=85℃, Ts2=105℃
计算公式▼
y=mx+b①
m=(n∑xy-∑x∑y)/(n∑x2-(∑x)2)②
b=(∑y-m∑x)/n③
α=-m④
β=exp(b)⑤
n=Point #平均数据点⑥
Lp=ln(100β/p)α⑦
样品的数量25pcs
根据上述公式进行计算结果如下表▼
以L70为计算寿命数据如下表▼
DLC 4.2 Premium L90为计算寿命数据如下表▼
根据Φ(t)=βexp(-αt)公式可以计算出不同时间的光衰数据▼
2某温度的寿命推导
用于较低值Ts1和较高值Ts2之间的温度下的寿命推导
以一款为6V SMD 3030 LM-80产品测试数据为例,数据为Ts=85℃以及Ts=105℃,进行Ts =100℃的寿命推导。
推导公式如下▼
温度单位转换为K
TS[K]=TS[℃]+27*I
由Arrhenius计算方程式
Φ1(t)=B0exp(-α1t)II
可以推导出现场光衰常数αi
αi=Aexp(-Ea/(KBTs.i)III
其中
A=指前因子
Ea=能量(电子eV)
Tsi=使用现场测试**温度(K)
KB=伯茨曼常数(8.6173*10-5eV/K)
通过α1、α2和对应温度TS1和Ts2可以拟合出Ea
Ea/KB=(lnα1-lnα2)/(1/Ts.2-1/Ts.1)IV
从而计算出指前因子A
A=α1exp(Ea/(KBTs.1)V
上式可用a2、Ts2 替代a1、Ts1
通过B1:Ts1初始预测常数; B2:Ts2 初始预测常数。
可计算出B0
B0=√(B1 B2)VI
利用上式计算出B0,针对现场外壳测试温度Ts对应的Lp,利用下面的公式计算出Ts对应的流明维持率Tabel 1。
Lp=ln(100B0/P)/αVII
根据以上数据进行推导数据如下表▼
根据Φ1(t)=B0exp(-α1t) 可推算出Ts =100℃ 不同时间段的光通量维持率▼
结论:6V SMD 3030 Ts 85-100℃ L90>36000H,符合DLC 4.2
安博认证机构简介
深圳安博检测实验室,英文简称"ANBOTEK"),是具有第三方公正地位的独立检验 机构,在产品检测与认证服务领域已有**过十年的丰富经验, 是集电磁兼容性,安全规格测试及代客户修改对策。实验室质量体系和设备及技术能力得到CNAS、NVLAP、TUV、FCC、VCCI、IC、UL等授权认可实验室,是一家主要从事电子及电器产品安全(Safety)、电磁兼容(EMC)及无线电通讯认证检测机构。

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欢迎来到深圳安博检测股份有限公司网站,我公司位于经济发达,交通发达,人口密集的中国经济中心城市—深圳。 具体地址是广东深圳宝安区深圳市市宝安区航空路7号索佳科技园D栋一楼,联系人是秦玲。
联系电话是18033059194, 主要经营深圳安博检测股份有限公司是专业提供能效测试,MTBF检测,光伏检测,ETL认证,SRRC认证,CCC认证,CE认证,FCC认证,FDA认证,UL认证;拥有*服务的业务员团队,专业为您解决认证检测方面的问题,欢迎前来咨询洽谈。 。
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