esd静电放电测试

深圳市德莱检测技术有限公司（简称：德莱检测，英文缩写DL）是一家从事电子电器产品、消费产品和工业用品检测认证的第三方检测认证机构 。DL为电源、家电、灯具、消费产品检测认证服务。
DL具有丰富的认证经验，提供CE、KC、FCC、CB、GS、TUV、SASO、SONCAP、SAA、UL和CCC等一站式认证代理服务。
DL自成立以来，秉承“积极，耐心、，”的企业服务理念得到许多客户和合作机构的支持，帮助客户一次申请获得多国的认证证书和报告。
ESD静电放电的危害
　　ESD损坏IC是由于产生的高压和高峰值电流造成的。精密模拟电路往往具有较低的偏置电流，比普通数字电路更*遭到损坏，因为用于ESD保护的传统输入保护结构会增加输入泄漏，因此不能使用。对于来说，ESD损坏常见的表现是IC发生故障。然而，暴露在ESD之下也可能导致泄漏增加，或者使其他参数下降。如果某个器件在评估期间似乎达不到数据手册上的规格指标，则应考虑ESD损坏的可能性。

感应起电
a) 非接触的方法
b) 当导电材料充分接近时,来源于某静电源的静电场将引起该导电材料表面的电荷分离。

分子：保持物质化学性质的一种微粒；
原子：化学变化中的小微粒，原子中心的原子核有质子和中子，环绕原子核运转的是电子；
电子：具有小电量的质量小的粒子(现在有分数电量之说)；
离子：以带正电(正离子)或负电(负离子)的原子或分子形态存在。
单晶体：按照一定规则的原子序列构成的晶体；
多晶体：小的单晶体的；
晶体：由反映晶体特征的基本单元在三维空间堆积而成的。把基本单元叫做晶胞；
质子数目＝电子数目 =〉电中性
质子数目>电子数目 =〉正电性
质子数目<电子数目 =〉负电性

说明
　　IEC61340-5-1:2007标准是ESD S20.20:2007之外的另一个新的防静电国际认证标准，IEC61340-5-1:2007标准是对通过ESD S20.20:2007标准更新， 欧洲和日本企业会更倾向于IEC61340-5-1标准的认证，对ESDS20.20:2007标准认证的客户，其静电防护体系也可以按IEC61340-5-1:2007标准方便地进行转换。ESD 适用的行业包括电子电气，IT 和通讯以及汽车等。
　　1.静电防护要求高的企业，如生产晶片，磁头的企业。
　　2.跨国公司的下属企业或者供应商，如 IBM，INTEL 等。
　　3.承接 OEM、ODM 的 EMS 企业
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　　深圳市德莱检测技术有限公司
　　Shenzhen DL Certification & Testing Co.,Ltd.
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